產(chǎn)品列表 / products
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益和MICROTEST 7700 線圈層間短路測(cè)試儀 7700 為2通道, 脈衝電壓（可程式化） 5000V 線圈層間短路測(cè)試儀器，能提供面積比，面積差比，電壓時(shí)間差等波形比對(duì)功能，並可利用游標(biāo)選取比對(duì)的範(fàn)圍，因而能涵蓋各元件間電器特性差異所產(chǎn)生的波形差異，將不良品精準(zhǔn)的檢查出來(lái)。由於能提供不同諧振模式的選擇，因而能適用各式各樣的線圈產(chǎn)品，視線圈類產(chǎn)品品質(zhì)保證的蕞佳儀器。
益和MICROTEST 7600 耐壓測(cè)試儀 7600 為2 Channels 耐壓測(cè)試儀，可應(yīng)用在變壓器、馬達(dá)、電容、電感、線材、濾波器等範(fàn)圍。
益和MICROTEST 7620/7621 耐壓測(cè)試儀 7620 耐壓測(cè)試儀：7620 為8 Channels 耐壓測(cè)試儀，可應(yīng)用在變壓器、馬達(dá)、電容、電感、線材、濾波器等範(fàn)圍。 7621 耐壓測(cè)試儀：7621 為8 Channels 耐壓測(cè)試儀，可應(yīng)用在變壓器、馬達(dá)、電容、電感、線材、濾波器等範(fàn)圍。
益和MICROTEST 7630 耐壓測(cè)試儀 7630為2通道耐壓測(cè)試儀，AC 高壓5000V，DC 高壓6000V，絕緣阻抗1.2G?。內(nèi)部記憶體可存30組測(cè)試檔案，每組檔案支援16組測(cè)試步驟。USB Host 可儲(chǔ)存檔案及更新韌體。可連接USB Device/RS-232傳送指令至電腦。另外待測(cè)物測(cè)試不良時(shí)，可加裝不良的通道警示燈，透過(guò)Remote Port輸出信號(hào)判斷。
益和MICROTEST 7631 精密耐壓測(cè)試儀 7631為8通道耐壓測(cè)試儀，AC 高壓5000V，DC 高壓6000V，絕緣阻抗1.2G?。內(nèi)部記憶體可存30組測(cè)試檔案，每組檔案支援16組測(cè)試步驟，在量測(cè)技術(shù)上使用糕端32Bit True-RMS DSP（數(shù)位信號(hào)處理器），有別於一般量測(cè)所使用的ADC（類比數(shù)位轉(zhuǎn)換積分器）。
